Типы тестируемых элементов ("обозначение на экране"):
- NPN транзисторы "NPN"
- PNP транзисторы "PNP"
- N-канальные-обогащенные MOSFET "N-E-MOS"
- P-канальные-обогащенные MOSFET "P-E-MOS"
- N-канальные-обедненные MOSFET "N-D-MOS"
- P-канальные-обедненные MOSFET "P-D-MOS"
- N-канальные JFET "N-JFET"
- P-канальные JFET "P-JFET"
- Однопереходные "UJT" и программируемые однопереходные транзисторы "PUT"
- Тиристоры маломощные "Tyrystor"
- Симисторы маломощные "Triak"
- Диоды кремниевые, германиевые, Шоттки, светодиоды "Diode"
- Стабилитроны с обратным напряжением пробоя <4.5В
- Двухкатодные сборки диодов "Double diode CK"
- Двуханодные сборки диодов "Double diode CA"
- Два последовательно соединенных диода "2 diode series"
- Диоды симметричные "Diode symmetric"
- Резисторы - диапазон от 0 до 50М, максимальное разрешение 0,01ом
- Конденсаторы - диапазон от 0,5pF до 100000uF [nF, uF, mF],максимальное разрешение 0,01pF
- ESR в диапазоне 90nF - 100000uF, максимальное разрешение 0,01ом
- Измерение потерь Vloss% в диапазоне 5nF - 100000uF, максимальное разрешение 0,01ом
- Индуктивность (L) в диапазоне 0.1мкГн - 20Гн, максимальное разрешение 0,01мкГн
- Кварцы от 1 до 13МГц, в том числе и трехногие с встроенными конденсаторами, керамические кварцы измеряет и от 0.4МГц, я пробовал кварцы 20-30-40МГц, в основном он их видит, но показывает частоту 1-й гармоники.
На экран также выводится символьное обозначение элемента и цоколевка.
Дополнительные параметры измерения полупроводников:
- H21e (коэффициент усиления по току) - диапазон до 10000
- (1-2-3) - порядок подключенных выводов элемента
- Наличие элементов защиты - диода - "Символ диода"
- Прямое напряжение – Uf [mV]
- Напряжение открытия (для MOSFET) - Vt [mV]
- Емкость затвора (для MOSFET) - C= [nF]