Assessing the reliability of a device requires adding more physical factors into the analysis, many of which are interconnected in complex ways.

Fruit rots. Tires wear out. And silicon ages, too. Let’s look at the degradation process and its effects on chip signal integrity and performance.

Группа исследователей из Амстердамского свободного университета, Швейцарской высшей технической школы Цюриха и компании Qualcomm провели исследование эффективности применяемой в современных чипах памяти DDR4 защиты от атак класса RowHammer, позволяющих изменить содержимое отдельных битов динамической оперативной памяти (DRAM). Результаты оказались неутешительными и чипы DDR4 основных производителей по-прежнему остаются уязвимы (CVE-2020-10255).